| |
|
- Рік народження - 1957
- Отримав вищу освіту в 1980 році за спеціальністю 0530 - оптичні прилади
і спектроскопія, приладобудівний факультет Київського політехнічного
інституту.
- Працює на кафедрі з 1979 року.
- 1983 рік - отримав науковий ступінь кандидата технічних наук за спеціальністю
05.11.07 - оптичні прилади і системи;
1988 рік - отримав вчене звання старшого наукового співробітника за
спеціальністю 05.02.11 - методи контролю в машинобудуванні;
1995 рік - отримав науковий ступінь доктора технічних наук за спеціальністю
05.11.07 - оптичні прилади І системи;
1998 рік - отримав вчене звання професора на кафедрі виробництва приладів;
2000 рік - обрано член-кореспондентом Академії Інженерних Наук України;
2001 рік - обрано академіком Академії Інженерних Наук України.
- Фахівець в галузі лазерних інформаційно-вимірювальних систем. Підготував
6 кандидатів наук, автор 198 наукових праць. За результатами виконаних
досліджень обгрунтовано нові спектрально-кореляційні методи І системи
обробки сигналів, практична реалізація яких захищена 43 авторськими
свідоцтвами на винаходи і запатентовано в 17 країнах світу. Створив
новий клас лазерних спектрально-кореляційних систем на базі пасивних
резонаторів Фабрі-Перо для оперативного контролю параметрів якості деталей
і стану технологічного обладнання в прецизійному приладобудуванні.
- Перелік викладаємих дисциплін:
- Спеціальний курс фізики.
- Технологія оптичного приладобудування.
- Технологія виготовлення оптично-електроних вузлів приладів
- Спектрально-кореляційний фур'є-аналіз систем.
- Лазерні технології та обладнання в виробництві приладів.
- Кращі наукові праці:
- Возможности исследования микродефектов отражающих поверхностей и прозрачных
пленок (стаття). - ОМП 1980, N11, с.11-13
- Анализ оптических систем когерентных спектроанализаторов (стаття).
- ОМП, 1982., N 2 ,с.4-7
- Искажение фурье-образа сигналов при гауссовом освещении входного транспаранта
в когерентных оптических спектроанализаторах (стаття). - ОМП, 1984,
N ІІ.с.1-4
- Оптическое множительно-делительное устройство. - а.с.1149780, 1984.
- Диагностика процесса металлообработки (монографія). - г.Киев, Техника,
1991, 151 с.
- Викривлення дифракційного поля в лазерних дифрактометрах для контролю
інструмента в технологічних процесах виготовлення прецизійних деталей
приладів (стаття). - Наукові вісті НТУУ'КПГ, 2000, №4, с.108-113.
- Методи розв'язання задачі дифракції випромінювання на шорсткій поверхні
(стаття). - Наукові вісті НТУУ'КПГ', 2001, №3, с.115-120.
|
|
